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Exkursion an die Friedrich-Schiller-Universität und zum Zeiss Werk in Jena

Im Rahmen der Lehrveranstaltung „Qualität und Analyse“ haben Studierende der Elektrotechnik und Informationstechnik detaillierte Einblicke in die Charakterisierungstechniken Fokussierte Ionenstrahl (FIB)-Präparation und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) erhalten. Diese Methoden kommen insbesondere bei der Fehleranalyse in der Mikroelektronik zum Einsatz.

Exkusion Jena, Dr. M. Seyring

Die Methodendemonstration Fokussierter Ionenstrahl (FIB) und Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) erfolgte an Proben aus eigenen Forschungsprojekten der Professur „Autonome Intelligente Sensoren“. Somit bekamen die Studierenden nicht nur einen Einblick in analytische Techniken, sondern auch in die laufenden Forschungsaktivitäten an der Hochschule Schmalkalden.

Nach einer Mittagspause in der Zeiss-Mensa mit Rinderbraten und Klößen ging es gut gestärkt in die Werkführung bei Zeiss. Wir danken der Carl Zeiss Jena GmbH für die aufschlussreiche und stets kurzweilige Führung durch die Fertigungsbereiche Meditec, Optik und Mechanik.

Ein herzlicher Dank geht an die Arbeitsgruppe Metallische Werkstoffe von Frau Dr. Stephanie Lippmann an der Friedrich-Schiller-Universität für die umfangreiche Unterstützung bei der Durchführung und Planung der Exkursion aber auch für den fruchtbaren Austausch im laufenden Forschungsprojekt MatInWLP.